线路板电路板厂金镍测试仪
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高校专用镀层测厚仪
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航天航空企业指定专用美国博曼BA-100镀层膜厚仪
¥2000.00
高校指定专用全球一线品牌美国博曼BA-100镀层膜厚仪
¥2000.00
美国博曼高性能XRF镀层测厚仪，可以进行对产品镀层厚度测量，元素分析，电镀液分析。博曼X射线系统可对13号铝元素到92号铀元素进行高精度测量分析，广泛应用在汽车零部件、切削工具、紧固件、线路板、晶圆、引线框架、存储器件、高温/高精度零件、五金器具、连接器、通讯接收器、管道配件等产品上。
博曼性价比较高的型号为B系列，也是最多客户使用和选用的一款。
博曼全系列产品满足用户不同的测量需求
G系列 珠宝业的过渡金属分析
B系列 小型电镀样品
P系列 “多面手”，适用于电子，常规电镀，贵金属
O系列 较大测量点的薄膜分析
M系列 采用µ-spot多导毛细管技术，分析极小测量点的薄膜
L系列 大型电镀样品
W系列 用于测量微电子领域的最小特征
博曼BA-100XRF膜厚仪可以测纳米级别的厚度。相比传统的切片或库仑分析法，拥有智能化的设计与强大的分析功能，普通准直器仪器可在20-30秒测量分析出镀层厚度，而毛细管光学结构仪器可在2-5秒内快递无损检测出数据。
Bowman XRF涂层测量系统符合行业对精度，可靠性和易用性的最严格要求。 紧凑，符合人体工程学的设计使分析便于每个应用 - ***价格可以快速实现投资回报。
美国Bowman涂层厚度测量仪器，具有***检测技术和***的软件，该软件使系统还可以确定样品中存在的元素。 我们的XRF仪器可同时测量多达5个涂层，所有涂层都可以是合金，也可以测量HEA（高熵涂层）。
博曼BA-100膜厚仪测量是将涂层电镀到金属零件上的制造商的要求，因为仪器可确保质量，***的规格并节省开支。
通过微焦点相机对准X射线光学轴线选择样品的测试区域。 由聚焦激光控制的平台能容纳不同高度的样品。
智能化设计，强大的分析
几秒内完成金属镀层无损分析
成分分析最多可分析25种元素
同时测量多达五个涂层，所有涂层都可以是合金
基础参数法-半定量分析厚度与成分
轻松设置和操作 - 一根USB完成连接
简洁的前控制面板
占地面积小，节约空间
轻量化设计，方便挪动
直观的用户界面
提供分析灵活性，同时减少用户出错机会
基于.Net框架 Xralizer 软件
直观的图标引导用户界面
强大的定性/无标样分析功能
功能强大的标准片库
可定制快捷键，方便操作
灵活的数据显示和导出
强大的报告编辑生成器
性能，强大，便利
紧密耦合的几何设计***提高测量效率和精度
经验证的固态探测器可提供更高的分辨率，稳定性和灵敏度
仪器预热时间短，X射线管灯丝寿命长
可实现银、锡的L线薄膜分析
多位置一次滤波器与多规格准直器可供选择
灵活的焦距为复杂形状或厚度较大的样品提供测量便利
模块化组件设计，维护简单
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