SSOP24-0.635翻盖式测试座SSOP24老化测试夹具间距0.635MM烧录座 原装进口OTQ-32-0.8-003带板 QFP32 LQFP32 IC测试座 烧录座 编程座 原装进口OTQ-32-0.8-003 QFP32 LQFP32 IC测试座 烧录座 编程座 SOT23-6L带板开尔文老化测试座烧录座带板编程座镀金体宽1.7MM 测试座SOT23-6L开尔文老化测试座烧录座带板编程座镀金体宽1.7MM QFN4X4-20L(0.5)带板测试座(带顶针)QFN20间距0.5MM烧录座插座
老化座QFN4X4-20L(0.5)测试座(带顶针)QFN20间距0.5MM烧录座插座 QFN3X3-16L带板烧录座间距0.5MM测试座QFN16编程器芯片测试座 QFN3X3-16L间距0.5MM翻盖式测试座QFN16编程器烧录座芯片烧录底座 QFN32带板测试座 QFN5X5-32L(0.5)/QFN32 芯片老化测试座 烧写座 QFN32烧录座QFN5X5-32L(0.5)/QFN32 ic芯片烧录座老化测试烧写座 PLCC32带板芯片测试座 IC120-0324-309弹跳IC烧录座 YAMAICHI原装
PLCC32/DIP测试座 IC120-0324-309弹跳IC烧录座 YAMAICHI原装 Plastronics带板测试座 QFN32 0.4MM 4X4/32QN40TS24040 编程座烧录座 Plastronics测试座 QFN32 0.4MM 4X4/32QN40TS24040 编程座烧录座 TQFP128带板测试座QFP128/ LQFP128 烧录座 编程座间距0.4MM适配座 TQFP128测试座QFP128/DIP LQFP128 烧录座 编程座间距0.4MM适配座 SOP8/811-2361-300E 带板测试座 WDIP8光耦烧录座 宽300MIL间距2.54