失效分析检测无损分析检测 北京CNAS第三方失效分析机构-安博检测
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西安易恩半导体曲线测试仪
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实验室用晶体管图示仪
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西安易恩半导体曲线测试仪
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产品详情
系统规格及技术指标
主极电压： 1mV-2000V
电压分辨率： 1mV
主极电流： 0.1nA-50A
扩展电流： 100A
电流分辨率： 0.1nA
测试精度： 0.2%+2LSB
测试速度： 0.5mS/参数
工作温度： 25℃--40℃
工作湿度： 45%--80%
贮存湿度： 10%--90%
工作电压： 200v--240v
电源频率： 47HZ--63HZ
通信接口： RS232 USB
系统功耗： <150w
设备尺寸： 450mm×570mm×280mm
质 量： 35KG
测试范围
二极管DIODE，晶体管（NPN型/PNP型），J型场效应管J-FET，MOS场效应管 MOS-FET双向可控硅TRIAC，可控硅SCR，绝缘栅双***功率晶体管IGBT，硅触发可控硅STS
达林顿阵列DARLINTON，光电耦合OPTO-COUPLER，继电器RELAY，稳压、齐纳二极管ZENER三端稳压器REGULATOR，光电开关OPTO-SWITCH，光电逻辑OPTO-LOGIC，金属氧化物压变电阻MOV，固态过压保护器SSOVP，压变电阻VARISTOR，双向触发二极管DIAC
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产品参数
- 否
- 陕西西安
- 是
- 易恩电气
- EN-2005_1
- 电参数测试仪
- 分立器件测试
- 0.2%+2LSB
- 450mm×570mm×280mm
- 失效分析
- 35
- 220
- 450mm×570mm×280mm
