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中仪 ZY-LM金属镀层测厚仪

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山东中仪仪器有限公司
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产品详情




铝膜测厚仪
发布时间:2013-04-3
铝膜测厚仪
产品介绍
 

     随着新型包装材料发展,要求阻透性薄膜上真空沉积大约35NM的铝涂敷层,因而***提高了薄膜对气体的阻透性,这是因为气体和芳香都不会在金属中相溶,金属层的存在也能保护包装物,使其避光,铝膜的厚度直接影响膜阻透性。因此,测试和控制铝膜厚度就显得尤为重要,AT-LM型测厚仪广泛应用软包装行业中,而且测试方便迅速。

 
技术参数
 

量程范围:                  0-1000埃
分辨率:                    10埃
测量准确度:                ≤±3%(F.S)
读数重现性(同一测试点):   30埃
应用对象 :                 软包装新材料
 
注:1微米=1000纳米=10000埃



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