德国EPK MiniTest 4100 涂层测厚仪_德国涡流测厚仪 苏州总经销
德国EPK MiniTest 4100 涂层测厚仪 苏州总经销
德国EPK（Elektrophysik）公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；
所有型号均可配所有探头；
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；
可使用一片或二片标准箔校准。
MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪功能 型号1100210031004100
MINITEST 存储的数据量
应用行数（根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数）111099
每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计，可设宽容度极限值）-11099
可用各自的日期和时间标识特性的组数-1500500
数据总量1100001000010000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar-√√√
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk--√√
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar--√√
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk--√√
存储显示每一个应用行下的所有组内数据---√
分组打印以上显示和存储的数据和统计值--√√
显示并打印测量值、打印的日期和时间-√√√
其他功能
透过涂层进行校准（CTC）-√√√
在粗糙表面上作平均零校准√√√√
利用计算机进行基础校准√√√√
补偿一个常数（Offset）--√√
外设的读值传输存储功能-√√√
保护并锁定校准设置√√√√
更换电池是存储数值√√√√
设置极限值--√√
公英制转换√√√√
连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最小值--√√
连续测量模式中测量稳定后显示读数--√√
浮点和***方式数据传送√√√√
组内单值延迟显示-√√√
连续测量模式中显示最小值√√√√
可选探头参数（探头图示）
所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能探头量程低端
分辨率误差最小曲率
半径（凸/凹）最小测量
区域直径最小基
体厚度探头尺寸
磁
感
应
法F050-500μm0.1μm±（1%±0.7μm）1/5mm3mm0.2mmφ15x62mm
F1.60-1600μm0.1μm±（1%±1μm）1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F1.6/900-1600μm0.1μm±（1%±1μm）平面/6mm5mm0.5mmφ8x170mm
F30-3000μm0.2μm±（1%±1μm）1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F100-10mm5μm±（1%±10μm）5/16mm20mm1mmφ25x46mm
F200-20mm10μm±（1%±10μm）10/30mm40mm2mmφ40x66mm
F500-50mm10μm±（3%±50μm）50/200mm300mm2mmφ45x70mm
两
用FN1.60-1600μm0.1μm±（1%±1μm）1.5/10mm5mmF0.5mm
N50μmφ15x62mm
FN1.6P0-1600μm0.1μm±（1%±1μm）平面30mmF0.5mm
N50μmφ21x89mm
FN20-2000μm0.2μm±（1%±1μm）1.5/10mm5mmF0.5mm
N50μmφ15x62mm
电涡流法N020-200μm0.1μm±（1%±0.5μm）1/10mm2mm50μmφ16x70mm
N.08Cr0-80μm0.1μm±（1%±1μm）2.5mm2mm100μmφ15x62mm
N1.60-1600μm0.1μm±（1%±1μm）1.5/10mm2mm50μmφ15x62mm
N1.6/900-1600μm0.1μm±（1%±1μm）平面/10mm5mm50μmφ13x170mm
N100-10mm10μm±（1%±25μm）25/100mm50mm50μmφ60x50mm
N200-20mm10μm±（1%±50μm）25/100mm70mm50μmφ65x75mm
N1000-100mm100μm±（1%±0.3mm）100mm/平面200mm50μmφ126x155mm
CN0210-200μm0.2μm±（1%±1μm）平面7mm***制φ17x80mm
注：F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。
探头图示FN1.6
0～1600μm,φ5mm
两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高（0.1μm）
探头图示FN1.6
0～1600μm,φ5mm
两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高（0.1μm）
FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
两用测头， 特别适合测粉末状的覆层厚度
F05
0～500μm,φ3mm
磁性测头，适于测量细小钢铁物体的薄覆层，如金属镀层，氧化层等
量程低端分辨宰很高（0.1μm）
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很高（0.1μm）
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层
F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性测头
尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高（0.1μm）
F10
0～10mm,φ20mm
适合测量钢结构（如水箱、管道等）上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等
F20
0～20mm,φ40mm
适合测量钢结构（如水箱、管道等）上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等
F50
0～50mm,φ300mm
适合测量钢结构（如水箱、管道等）上的防腐覆层的隔音覆层
N02
0～200μm,φ2mm
非磁性测头，尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层
N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性测头，适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性测头，适于测量较薄的绝缘覆层
尤其适合在管内壁测量
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N10
0～10mm,φ50mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
N20
0～20mm,φ70mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
N100
0～100mm,200mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
CN02
10～200μm,φ7mm
用于测量绝缘材料上的有色金属覆层，如覆铜板
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