金属电镀层厚度检测仪，镀层厚度分析仪，天瑞电镀层膜厚仪
¥12.90
供应国产华唯Ux-720镀层厚度检测仪金属镀层厚度仪
¥18.00
天瑞EDX600PLUS镀层厚度分析仪 X荧光膜厚测试仪
¥12.00
回收 天瑞仪器 EXPLORER5000T 手持式镀层厚度分析仪
¥3200.00
EDX9800B 多功能膜厚镀层厚度分析仪
¥8.50
天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商，一直以来严格遵循“360°优质服务”的客户服务理念，以提高顾客满意度为根本目标，从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供全方位的优质服务。
元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层
一次可同时分析多达五层镀层
最薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9%
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性高
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg
X荧光测厚仪应用范围：
*合金分析
*镀层厚度分析
*电镀液金属离子分析
*磁性介质和半导体元素分析
*土壤污染元素分析
*过滤器上的薄膜元素分析
*塑料中的有毒元素分析
x荧光测厚仪的原理：
若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。
原子的特性由原子序来决定，亦即质子的数目或轨道中电子的数目，即特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多，而不同的原子序也会造成不同的能量差
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