***镀层测厚仪
型号:XRF-2000
仪器资料:
MicroPioneerXRF-2000系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进
行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,
便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层
镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射
自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样
品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首
饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层
厚度.
可测元素范围:
钛(Ti)–铀(U)
可测量厚度范围:
原子序22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
X-射线管:油冷,超微细对焦
高压:0-50KV(程控)
准直器:
固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
电脑系统:IBM相容,17”显示器
综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液
分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,
合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的
镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核
对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定
量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进
行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料
的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便
***控制品质.