rohs,膜厚 租赁 设备出租 RoHS维修 费希尔维修 XRF荧光光谱仪专业售后
膜厚仪进口rohs2.0国产RoHS检测仪EDX荧光光谱仪玩具ROHS测试仪器ROHS无卤给测仪器厂家
#1 专业维修国产rohs X荧光光谱议 膜厚仪 以有提供ROHS检测,电镀膜厚仪维修,高压电源,原装高压,X光管,探测器维修更换,
新机二手仪器销售维修,调试,校验,租赁,回收。免费远程解决软件问题,可免费上门检测仪器服务!!
#2 租赁环保测试仪器 膜厚测试仪器,可根据客户需要选择相应的日期租赁,免费提供相应的技术支持和满意的服务,如有意向和疑问可来电相谈。
#3 提供国产RoHS光谱仪器维修《卤素升级》X光谱仪器测厚仪维修的服务,以及提供测试的几大配件更换服务。
FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基於Windows 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統。測量方向從上往下。
XDL-B 的特色是獨特的距離修正方法。
DCM方法(距離控制測量)自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別。
對於XDL?-B 帶測量距離固定的X-射線頭,這一特性提供了能在複雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現簡便測量的可能性。在加強的軟件功能之下,簡化了測量比較複雜鍍層的程序,甚至可以在不需要標準片之下,一樣測量。
典型的應用範圍如下:
單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
分析多達4種(或24種-使用V.6軟件)元素。