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X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台，用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD®是一款应用的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了、可编程运行的 X/Y 轴工作台，是全自动测量样品的理想设备。
XDV-SDD设计为界面友好的台式测量仪器。它配备了、可编程运行的X/Y轴工作台和马达驱动的Z轴升降台。当具有防护功能的测量门开启时，样品台能自动移出到放置样品的位置。通过激光点，可以快速对准需要测量的位置。仪器内置带有图像放大及十字线功能的视频系统，简化了样品放置的过程，并可对测量点位置进行微调。
所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。
XDV-SDD多可同时测定从铝（13）到铀（92）中的24 种元素
测量门向上开启的台式仪器，侧面开槽设计
马达驱动、可编程运行的 X/Y 轴工作和 Z 轴升降台
马达驱动、可切换的准直器和基本滤片。
仪器配备带铍窗口的微聚焦钨管，三挡可调节高压，6个可切换的基本滤片。
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