赛成CHY-CA薄膜膜厚仪 全自动、台式、数显测厚仪
¥1100.00
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参数
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广东 深圳
不限
10000台
赛成CHY-CA薄膜膜厚仪 全自动、台式、数显测厚仪
¥1100.00
产品详情
日本filmetrics反射/透射/膜厚测量系统F10-RT
F10-RT 是一款紧凑型桌面测量系统，集成了测量单元和测量台。同时测量反射率和透射率，轻松分析膜厚、折射率和消光系数。
只需一根USB线和电源线即可轻松连接，无需调整光学系统，也无需繁琐的设置，设置起来非常简单。
主要特点
集测量单元和测量台于一体的紧凑型桌面测量系统
光谱范围广，光源可选多种可同时测量反射率和透射率，也可分析膜厚、折射率、消光系数
标准相机同时记录测量位置只需放置样品。无需光学调整即可轻松设置
主要用途
| 平板 | PET或玻璃基板上的聚酰亚胺、ITO、抗蚀剂、氧化膜、减反射膜、各种光学膜 |
|---|---|
| 光学镀膜 | 玻璃、眼镜、镜片等的硬涂层。 |
| 薄膜太阳能电池 | CdTe、CIGS、非晶硅等 |
产品阵容
| 模型 | F10-RT -紫外线 | F10-RT | F10-RT -近红外 | F10-RT -近红外 | F10-RT -UVX |
|---|---|---|---|---|---|
测量波长 范围 | 190 – 1100nm | 380 – 1050nm | 950 – 1700nm | 380 – 1050nm | 190 – 1700nm |
薄膜厚度测量 范围 | 1nm – 40μm | 15nm – 70μm | 100nm – 150μm | 15nm – 150μm | 1nm – 150μm |
准确性 | ±0.2% 薄膜厚度 | ±0.4% 薄膜厚度 | ±0.2% 薄膜厚度 | ||
| 1纳米 | 2纳米 | 3纳米 | 2纳米 | 1纳米 | |
光源 | 氘· 卤素 | 卤素 | 氘· 卤素 |
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产品参数
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- 日本filmetrics
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