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日本filmetrics台式膜厚测量系统F3-CS

参数
  • 是否进口
  • 日本产地
  • 加工定制
广东 深圳 不限 10000台
深圳市秋山贸易有限公司
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产品详情

日本filmetrics台式膜厚测量系统F3-CS


F3-CS 是测量小样品的理想测量系统。测量系统与测量台一体化,携带方便。
只需将样品面朝下放在载物台上即可进行测量,大约一秒钟即可测量薄膜厚度和折射率。

主要特点

  • 紧凑的尺寸

  • 轻松连接,仅 USB 连接

  • 光学常数分析(折射率/消光系数)

主要用途

光学镀膜硬涂层、防滴膜等
平板有机薄膜等

产品阵容

模型F3-CS-UVF3-CSF3-CS-近红外
测量波长范围190 – 1100nm380 – 1050nm950 – 1700nm

厚度测量范围

3nm – 40μm15nm – 70μm100nm – 250μm
准确性*±0.2% 薄膜厚度±0.4% 薄膜厚度
1纳米2纳米3纳米

*取决于样品和测量条件




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