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江苏 南京
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99台
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日 本SANKO山高电磁式模拟膜厚计荧光X射线膜厚计EX-851
X射线源
油浸式小型微焦点X射线管
靶材：钨
管电压：50kV/管电流可变
照射方式
顶部垂直照明方式
探测器
正比计数器
可测量范围
原子序数22-24：0.02～约20㎛
原子序数25-40：0.02～约30㎛
原子序数41-51：0.02～约70㎛
原子序数52-83：0.01～约10㎛
样品观察
CCD彩色相机（自动对焦）
桌子尺寸
200×200
测量物体高度
90毫米
机身尺寸
740（宽）×530（深）×660（高）
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产品参数
- 否
- 否
- 薄膜测厚仪
- SANKO山高
- EX-851
- 3
