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发现新大陆：你不知道的镀层测厚仪EDX2000A

¥16.5万 1台起批
¥15.8万 ≥2

参数

快速无损产品特性
否是否进口
江苏产地

发货地广东深圳 7天内发货供货总量100台

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产品详情

EDX2000A全自动微区膜厚测试仪 是天瑞仪器研发的一款上照式膜厚测试仪。采用进口高分辨率的FAST SDD探测器，高达140ev分辨率，相比于传统的镀层测厚设备，不仅在常规的传统电镀上表现更加优异，更能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦准确分析。

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产品参数

产品特性快速无损
是否进口否
产地江苏
加工定制是
类型镀层测厚仪
品牌天瑞
型号EDX2000A
测量范围0.000005~0.05
显示方式电脑上位机软件
电源电压AC220
外形尺寸485×588×505
测量元素范围铝（AL）~铀（U）
检出限0.005μm
含量测试范围0.1%-99.99%
厚度测试标准偏差＜3%
含量检测精度＜0.5%
检测时间5-40秒
探测器大窗口FAST SDD探测器
能量分辨率140±5ev
X射线装置微焦斑W靶光管
仪器重量60kg

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