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MB4S-EN-MB4S-EN-MB4S-EN华清现货
MB4S-EN-MB4S-EN-MB4S-EN华清现货
MB4S-EN-MB4S-EN-MB4S-EN华清现货
应用
用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷
锻件、铸件
金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、机器零件、壳体
特点
纵波单晶探头
适合DGS缺陷评判
性能参数误差小，适合高精度检测
可更换保护膜，保护探头不被磨损
柔性保护膜，即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上也能很好地耦合
合金压铸壳体，坚固耐用
用于高温检测时可加装高温延迟块（定制产品）
应用
用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷
锻件、铸件
金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、机器零件、壳体
特点
纵波单晶探头
适合DGS缺陷评判
性能参数误差小，适合高精度检测
可更换保护膜，保护探头不被磨损
柔性保护膜，即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上也能很好地耦合
合金压铸壳体，坚固耐用
用于高温检测时可加装高温延迟块（定制产品）
A=30mm
C=45mm | ||||||||||||
(MHZ) | 接口方向 | 带宽 | 晶片直径 | 接口类型 | 保护膜 | |||||||
B1S-EN | 25 | Lemo 01 | B1S | B2S | B2.25SE | B4S | B5S | B1S-O | B2S-O | B4S-O | B5S-O | A=20mm |
C=25mm | ||||||||||||
系列型号频率MBS1侧装10mmES242244562顶装45 | ||||||||||||
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