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碳化硅SiC外延片粗糙度测试仪原子力显微镜

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北京亚科晨旭科技有限公司
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美国布鲁克Bruker原子力显微镜-- Dimension Icon


Bruker公司的AFM具有多项技术,以其***的性能广泛应用于科研和工***各领域

Dimension Icon 系列作为布鲁克公司(Bruker AXS)原子力显微镜的旗舰产品,凝聚了多项***的技术,是二十多年技术创新、客户反馈和行业应用的结晶。


应用:

应用于科研各领域,涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,MEMS制造,金属/合金/金属蒸镀的性质研究,液晶材料性能表征,分子器件,生物传感器,分子自组装结构,光盘存储,薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。

原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式:接触模式(contact mode) ,非接触模式( non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode)。


各类机密机械结构的摩擦磨损测试系统

表面涂层附着力/形貌测试/厚度测试/各种油料液体抗磨损性能测试系统

抗摩擦指数/剥离指数(摩擦磨损测试)/硬度/杨氏模量/摩擦系数测量系统

LED PSS形貌测试/PSS衬底弯曲度测量系统

光学元件泽尔尼克系数/涂层粒度/反光薄膜结合力/反光膜粗糙度/膜层厚度测量系统

太阳能电池银线形貌测量系统

锂电池电极材料表面测试、石墨烯材料结构测试系统

液晶屏平整度/膜厚/粗糙度/电极的形貌测试系统

生物样本形貌/生物样本的膜层力学性能测试系统

橡胶制品摩擦学性能测试系统

润滑油抗摩擦性能测试系统

医疗器械粗糙度/医疗器械疲劳性能/医用缝合线拉伸特性/医用手术刀的磨损性能测量系统

矿山设备摩擦磨损性能测量系统

纺织品微观形貌/纺织品粗糙度/纺织品抗磨损性能测量系统

纸张的粘附力/纸张磨损率/纸张粗糙度测量系统

碳化硅外延片表面粗糙度测试系统


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