- 商品
- 详情
日本清和光学 半导体盒尺寸/晶片外观/正反面图案偏移检查装置
- ¥1.00 ≥1台起批
参数
- 日本清和光学品牌
- 是加工定制
- FSM系列型号
湖北 武汉
30天内发货
20台
产品详情
半导体盒尺寸检查装置
晶片外观检查装置
正反面图案偏移检查装置
晶片曝光装置（掩模对准器）
立式玻璃曝光装置/水平型玻璃曝光装置
微型LED/FPC/投影/胶片曝光装置
为您推荐
在线问
产品参数
- 日本清和光学
- 是
- FSM系列
- 半导体检查设备
- 见说明书
- 234
- 检测机
- 铝合金
- 日本进口
- 0℃~40℃
- 中英文
- PC显示
- 木箱
- 220V
- 50A
