在仅仅三十年的时间里,射频探针技术便取得了惊人的进步,从低频测量到适用多种应用场合的商用方案:如在110GHz高频和高温环境进行阻抗匹配,多端口,差分和混合信号的测量装置,连续波模式中直到60W的高功率测量,以及直到750GHz的太赫兹应用,都能见到射频探针的身影。
奥纳科技销售射频探针,主要是日本muRata村田探针。
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村田探针主要有这几种类型:村田无电缆探针,村田电缆探针,无浮动机构的自动探针,带浮动机构的自动探针,自动探针(无张力型),校准适配器。
村田无浮动机构的自动探针可用于产线大批量测试。探针内置在测量装置内,与连接器加压连接,探针不带夹爪锁固功能,因此不会使连接器受损,探针不带浮动机构,因此测量装置应具备浮动机构。
常用型号有MM126036MM126038MM126048,MM126310等。
村田电缆探针主要用于实验室评估。就是把探针与SMA接口延长了,在中间加了一断细软射频线,长度通常为300mm,测量射频电缆装配探针。配合完成后,探针可凭借与连接器接触点上的夹爪自行站立,配合完成后对探针施加的任何压力都可能导致探针脱落,连接受损或电级剥离。需要细心使用测试。
常用型号有MXHS83QE3000,MXHQ87WJ3000,MXHQ87WA3000,MXHQ87PA3000,MXHQ87PK3000,
MXHQ87PP3000,MXHQ87PN3000等。
其他一些相关的概念
Probepitch:指的是针尖(ProbeTips)之间的间距,一般在50-1000um之间不等。对于毫米波频率的应用,针尖间距一般都比较小。
Probeskate:当你在Z轴方向往下“按压”探针时,当探针接触到DUT,它将在ZY平面弯曲移动。通常,这也是我们判断针是否扎上的一个现象。
De-embeding:去嵌是在探针出现之前就有的技术,之前经常用在一些标准的分立的夹具测试中。