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供应单晶少子寿命测试仪

参数
  • 加工定制
  • 数字式电阻测量仪表类型
  • 鼎盛品牌
北京 海淀区 不限
北京鼎盛荣和科技有限公司
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产品详情

*.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于   测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命;
*.测试单晶电阻率范围: >0.3Ω.cm;
*.可测单晶少子寿命范围: 1μS-10000μS;
*.配备光源类型:红外光源,波长:1.09μm;
  余辉<1 μS;闪光频率为:20-30次/秒;
*.前置放大器:放大倍数约25;
*.测量方式:采用对标准曲线读数方式;

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