测量范围 | 电阻率:0.001~200Ω.cm(可扩展);
方块电阻:0.01~2000Ω/□(可扩展);
电导率:0.005~1000 s/cm;
电阻:0.001~200Ω.cm; |
可测晶片直径 | 140mmX150mm(配S-2A型测试台);
200mmX200mm(配S-2B型测试台);
400mmX500mm(配S-2C型测试台); |
恒流源 | 电流量程分为0.1mA、1mA、10mA、100mA四档,各档电流连续可调 |
数字电压表 | 量程及表示形式:000.00~199.99mV;
分辨力:10μV;
输入阻抗:>1000MΩ;
精度:±0.1% ;
显示:四位半红色发光管数字显示;极性、超量程自动显示; |
四探针探头基本指标 | 间距:1±0.01mm;
针间绝缘电阻:≥1000MΩ;
机械游移率:≤0.3%;
探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm;
探针压力:5~16 牛顿(总力); |
模拟电阻测量相对误差
( 按JJG508-87进行) | 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 |
整机测量相对误差 | (用硅标样片:0.01-180Ω.cm测试)≤±5% |
计算机通讯接口 | 并口,高速并行采集数据,连接电脑使用时采集数据到电脑的时间只需要1.5 秒。连接电脑使用时带自动测量功能,自动选择适合样品测试电流量程; |
标准使用环境 | 温度:23±2℃;
相对湿度:≤65%;
无高频干扰;
无强光直射; |