DDY微电脑茎秆强度仪
面议
DDZ植物抗倒伏测定仪
面议
LAM系列叶面积仪
¥12800.00
- 商品
- 详情
参数
- 否是否进口
- 石家庄产地
- 泛胜品牌
河北 石家庄
7天内发货
1000台
DDY微电脑茎秆强度仪
面议
DDZ植物抗倒伏测定仪
面议
LAM系列叶面积仪
¥12800.00
产品详情
FS-2000植物冠层图像分析仪
产品简介
植物冠层图像分析仪用于各种高度植物冠层的研究，利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像，通过专用分析软件，获得植物冠层的相关指标和参数。利用鱼眼镜头成像测量植物冠层数据，只操作一次即可，简化了传统测量方法要一天***多次测量的繁复工作，而且利用图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠层结构参数的冠层空隙部分，也可以躲开不符合测量计算的障碍物。
测量参数
叶面积指数
叶片平均倾角
散射辐射透过率
不同太阳高度角下的直射辐射透过率
不同太阳高度角下的消光系数
叶面积密度的方位分布
用途与适用范围
可测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数，叶面积指数和叶片平均倾角等，可用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析可用于不同植物群体结构的比较；可对农田作物群体生长过程进行动态监测适用于生态学野外植物群体动态监测的研究与教学；
也适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、植物群体对比与发展的研究与教学。
功能特点
非破坏性地测定冠层结构
可以测量冠层内外的光合有效辐射(PAR)
手持式万向接头自动水平调整探头，无需三角架
随身携带的笔记本计算机可以帮助你正确选点取样，即时决定图像的取舍
由外接锂电池组提供电源便于观测和长时间测量，尤其适合完成野外繁重的观测任务
图像分析软件可以任意定义图像分析区域(天顶角可分10区，方位角可分10区)。对 不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠层部分(如缺株、边行问题等)。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件，通过手动调节阈值，可以更精准的测量出叶面积指数等参数
FS-2000植物冠层分析仪技术参数
镜头角度：150°（或180°）
分辨率：768×494pix
天顶角： 0°～75°
PAR感应范围：感应光谱400nm～ 700nm 测量范围0～2000μmol/㎡•S
分析软件：植物冠层分析系统
显示和内存：决定于笔记本电脑的选择。
电 源：锂电池组
传输接口：USB
工作温度：0～55℃
为您推荐
在线问
产品参数
- 否
- 石家庄
- 泛胜
- FS-2000
- 标准
- 是
- 冠层图像分析仪
- 植物类
- 3Kg
- 全新
- 否
