Pulsed-IV解决方案综述—B1530A(100ns至10s)
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100 ns Pulsed-IV 参数测试解
决方案
● 具有1 nA电流测量分辨率的超精
超快量测
● 波形产生器/ 快速量测单元
(WGFMU)
Agilent B1530A是B1500A半导
体器件分析仪的插入模块,可提供具
有1 nA 电流测量分辨率的100 ns
pulsed-IV 参数测试解决方案。模块
支持100 ns至10 s的脉宽,是***评
估***MOSFET 和纳米器件,如纳
米碳管 (CNT) 晶体管的选择。
B1530A 有强大的测量能力,如
具有1 nA 测量分辨率的5 ns 采样间
隔,因此能覆盖要求快速和***测量
的各种应用。
B1530A 模块上有两个通道,因
此评估三端器件一块模块已够用。这
一解决方案不需要任何其它外部设
备,复杂的接线或客户设计的外围电
路。B1530A 提供的是真正的单机
Pulsed-IV 测量解决方案。
性能特性
● 1 nA 电流测量分辨率
● 100 ns 栅极脉宽
● 双通道脉冲能力能对栅极和漏极都
施加脉冲
● 不需要任何其它外部设备或复杂接
线的单机解决方案
目标器件类型
● ***半导体器件,如使用亚45 nm
制程的器件
***纳米技术器件,如CNT FET
和碳纳米线器件
● 有机电子晶体器件
● 单电子晶体管 (SET) 器件
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