OBLF 直读光谱仪
OBLF VeOS
描述
OBLF 的 VeOS 火花发射光谱仪采用基于为发射光谱开发的半导体探测器的探测器技术,能够对所有常见金属材料进行多功能、灵活和快速的分析。分析光谱还包括对短波长元素(如氮或低碳)的分析。
主要特征
完整而灵活地包含所有分析任务
易于扩展的功能
新、开发的探测器技术
在检出限、度、稳定性方面表现出色
用于重型环境的坚固设计
的多矩阵应用选项,对分析元素的选择没有任何限制
准确检测 N 和痕量碳 (ULC)
技术参数
Paschen-Runge 安装中的光谱仪
罗兰圆直径 500 毫米
波长范围 130-700 nm
光学元件和读出电子元件的温度稳定在 ± 0.1°C,具有长期稳定性
冷却光学元件和读出系统
自动计算机控制的轮廓
每个波长区域的优化检测器线
没有传感器涂层的高紫外线灵敏度
抗震性
带集成多火花系统的门控数字源 (GDS)
免维护
火花频***达 1 kHz
单极中压放电
预点火和积分可选的单独参数
可由软件选择的可变励磁参数和放电特性
点火电压 20kV
宽 74 厘米
身高 134 厘米
深度 115 厘米
重量约300公斤
电源供应
230V;50/60赫兹;1,5 kVA
待机模式下 300 W
环境条件
工作温度 10 – 40 C