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产品详情
X-MET8000 Geo是一款手持式X射线荧光（XRF）分析仪，非常适合在各种艺术保护和考古应用中进行元素分析。
该分析仪的操作界面简单易用，功能多样，适用于各种样品和文物的实验室分析，同时坚固耐用的设计使其成为现场工作的理想选择。
日立的革命性BOOST™技术可实现低检测限，从而准确测量考古鉴定所需的重要元素。
X-MET 配有多种附件和功能强大的软件，因此您可以灵活地定制设备解决方案，从而可以分析各种样品，包括土壤、陶瓷、玻璃、颜料/涂料、粘合剂/保存剂、合金和贵金属。
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产品参数
- SDD硅漂移
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- HITACHI/日立
- X-MET8000
- SDD硅漂移
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- 1.5k
- 镁-铀
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