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测试原理与设备
原理：Pogo-Pin 由针头、弹簧和针管三部分组成。测试时，针头与被测试芯片或电路板的接触点接触，施加外力使弹簧压缩，确保针头与测试点之间接触良好，从而传输电信号并进行测试数据采集 2。
设备：主要包括 Pogo-Pin 探针和 Test Socket。Test Socket 作为电连接装置，其基座固定在测试平台上承载和固定 Pogo-Pin，盖板用于施加压力使被测试芯片与 Pogo-Pin 紧密接触，导电垫确保电信号稳定传送2。
测试优势
高精度和高重复性：弹簧式探针能提供恒定的接触压力，确保每次测试结果的高度一致性2。
低接触阻抗：精密设计和材料选择使其能够在微小接触面积上提供低阻抗传导，获得***的测试结果2。
耐用性和寿命长：采用优质材料和精湛工艺，Pogo-Pin 探针能够承受数万次甚至数百万次测试，降低了维护频率2。
测试内容
静态参数测试：可对电子元件的击穿电压、漏电流、阈值电压等参数进行高精度测量2。
动态参数测试：能够适应复杂的时序测试需求，对开关速度、损耗、寄生电容等动态性能进行测试2。
环境模拟测试：可在高温、高压等实际工作环境条件下对电子元件进行测试，检验其性能稳定性2。
测试流程
样品准备：根据测试要求选取合适的电子元器件或电路板样品，确保其表面清洁、无损坏，并记录样品的基本信息。
设备校准：使用标准校准件对 Pogo-Pin 测试设备进行校准，确保测试设备的准确性和可靠性。
测试执行：将样品安装在 Test Socket 上，通过 Pogo-Pin 探针与样品的接触点进行连接，按照设定的测试程序和参数进行测试，记录测试数据。
数据分析与报告：对测试数据进行分析和处理，判断样品是否符合测试要求，并生成详细的测试报告。
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