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半导体材料hast老化试验箱 广东生产商

参数
  • 是否进口
  • 广东东莞产地
  • 加工定制
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广东艾思荔检测仪器有限公司 6年
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产品详情

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                         艾思荔检测仪器

半导体材料hast老化试验箱规格:

内部尺寸:Φ25×40  

外部尺寸:W56×H100×D65  

温度范围:+100℃~+135℃  

湿度范围:70~***  R.H 蒸汽湿度可调

温度控制器:采用微电脑LED显示薄膜按键型PID控温仪表,温度单点独立控制,并附多组加热系统:不锈钢鳍片式加热器.

加湿系统:电加热表面蒸发方式,并附清洗用排水口.

内箱材质:镜面不锈钢(SUS#304).

外箱材质:静电喷涂技术处理(SUS#304).

安全保护装置:无熔丝过负载保护器,压缩机过流过载保护器,超温断电保护器,缺水保护,加热加湿器干烧保护,加热加湿器快速保险.

使用电压:1Ф220V8A50HZ±10%

用水要求:RO逆渗透纯水或蒸馏水.


半导体材料hast老化试验箱试验目的:

1、加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度、与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。

2、用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

3、随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型:即PCT和USPCT(HAST)现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。注意事项:USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)。

半导体材料hast老化试验箱安全装置:

1、锅内安全装置:锅门若未关紧则机器无法启动。

2、安全阀:当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。

3、双重过热保护装置:当锅内温度过高时,机器呜叫警。

4、报并自动切断加热电源。

5、门盖保护:ABS材质制成可防止操作人员接触***。

半导体材料hast老化试验箱 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆 是艾思荔检测仪器是专业主打的产品,艾思荔检测仪器是模拟自然环境的***,生产历史长、技术精。为国内多家品牌测试设备厂***配套使用,建厂叁十余年,备受好评,多次被评为“***”产品。











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