AT3816 精密LCR 数字电桥 |
新升级的AT3816采用真彩TFT-LCD显示,全中文操作界面(可配置成英文界面)。采用大字体显示,读数更加直观,用于实验室质量控制,进料检验以及元器件分选,AT3816为10Hz~200kHz连续频点,分辨率为0.001Hz。测试信号电平0.01Vrms~2.00Vrms(10mV步进),相对于AT28系列增加了DCR测量以及内部直流偏压(DC BIAS, ±2.5V)
AT3816可同时对元件的4参数进行测试,每种参数都可任意配置,全新改进后的仪器,实现主副四参数全6位显示,可扫描10种频率或电平列表,还可对3组用户频率进行校正,提高准确度。内置比较器,通过HANDLER接口结合PLC完成元器件的自动分选。
技术规格
测量参数 | Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,Rs-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg,DCR |
监视参数 | Z, D, Q, θr, θd, R, X, G, B, Y, Vac, Iac, Δ, Δ% |
基本准确度 | 0.05% ±5字 |
测试频率 | 10Hz~200kHz(连续频率,分辨率 0.001Hz) |
显示范围 | L: 0.00001μH-999999H C: 0.00001pF - 999999μF R,Z: 0.00001Ω - 99.9999MΩ D:0.00001–9.99999 Q: 0.00001 – 99999.9 Δ%:-9999*** - 9999*** θ(deg): -179.999o -179.999oθ(rad) :-3.14159 – 3.14159 DCR: 0.00001Ω ~ 99.9999MΩ |
输出阻抗 | 30Ω,50Ω和100Ω |
量程 | 手动和标称量程,9量程量 |
读数 | 全6位,主参数: 999999 副参数:999999 监视参数:999999 |
信号电平 | 0.01V~2.00V(10mV步进) |
测试速度 | 快速: 25ms / 中速: 100ms / 慢速: 333ms |
比较器 | 14档分选,10组合格档,1组不合格档,1组附属档,2组主参数不合格档 档计数功能:档计数999999 |
列表扫描 | 10组频率和电平扫描测试 |
校准 | 开路/短路扫频,3点频清零和负载校准 |
文件 | 10组文件,保存所有用户设置,1组文件实时保存系统数据 |
接口 | RS232C, ExHandler接口,标配USB磁盘接口(可存储10000条数据) |
其它 | 储存999个LCD画面档案,触发延迟,自动准位控制 (ALC) |
电源要求 | 电压:90VAC~250VAC 频率:50Hz~60Hz 功率:20VA |
尺寸与重量 | 264 (宽)x107(高)x350 (深) 4kg |
附件 | ATL501A:测试电缆 ATL601: 测试夹具 ATL600: 短路片ATL108:RS232通讯线缆ATL508A SMD贴片测试夹 |
可选附件 | ATL608 SMD贴片夹具 ATL508 SMD贴片测试夹 数据采集软件 |
性能特征
性能特征 | |
真彩16M色,TFT-LCD显示。储存999个LCD画面档案,触发延迟,自动准位控制 (ALC)、正功能:全量程程开路和短路扫频清零,三组用户点频校准。多频测试:支持10个频率扫描测试多电平测试:支持10个电平扫描测试、10组文件管理,可完全存储仪器状态,列表扫描设置和比较器设置。增强型比较器(分选)功能:可编程的P1~P9 九档分选,主参数HI,IN,LO显示和输出,NG,AUX,SREJ,IDX,EOM 等显示及输出。偏差(ABS)比较方式、相对偏差(PER)和顺序(SEQ)比较方式。可开关的附属档(AUX)分选。可编程1~200次平均次数,提供稳定性。自定义分选结果讯响。内置RS232C接口和Handler接口。1000V***冲击保护 |
公司名称:深圳华清仪器仪表有限公司
公司电话:0755-28199550
公司传真:0755-29806349
热线电话:18675597965 13684941024
公司地址:深圳龙华新区三联路清泉二期12
公司网址:HTTP://
数字电桥就是能够测量电感,电容,电阻,阻抗的仪器
数字电桥的测量对象为阻抗元件的参数,包括交流电阻R、电感L及其品质因数Q,电容C及其损耗因数D。因此,又常称数字电桥为数字式LCR测量仪。其测量用频率自工频到约100千赫。基本测量误差为0.02%,一般均在0.1%左右。
半导体元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。
介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。
磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。
半导体材料:半导体材料的介电常数,导电率和C-V特性。
液晶材料:液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。