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LCC-48-0.8-11.0X11.0-12;12-H1.5~3.0翻盖式POGOPIN MAP/B&T
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规格型号：LCC-48-0.8-11.0X11.0-12;12-H1.5~3.0翻盖式POGOPIN
MAP/B&T LCC-48-0.8-11.0X11.0-12;12-H1.5~3.0 翻盖式POGOPIN 金属底座塑胶翻盖式
MAP 系列：支持订货；具体交期可咨询客服。
| AOP-DFN-8-0.5-3.0X2.0-H0.8-4;0+GND |
| AOP-DFN-8-1.27-6.0X5.0-4;0+GND |
| AOP-DFN-8-1.27-8.0X6.0-4;0+GND |
| B G A-324-0.8-15.0*15.0-18*18-H1.5- D0.45/0.3 老化 |
| BGA-134-1.27-26.0X17.0-15X9-H9.6 |
| BGA-144-1.27-15.0X15.0-12X12H6.6-D0.75/0.6 老化用 金属翻盖 |
| BGA-144-1.27-16.0X16.0-12X12H4.61-5.01-D0.76/0.6 |
| BGA-1760-1.0-42.5X42.5-42X42-H3.5-D0.6/0.5 |
| BGA-256-0.8-15.0X15.0-16X16 |
| BGA-6-0.5-1.5X1.0-2X3-H0.3-D0.31/0.25 |
| BGA-64-1.0-9.0X9.0-6X6 测金属旋钮 |
| BGA-77-1.27-15.0*9.0-11*7-POGOPIN 旋钮测试 |
| BGA-96-0.8-13.5X7.5-16X6翻盖金属 |
| BN8B2X3-W9-MP014X |
| BN8F5X6-WI2-MPIO8 |
| BN8F6X8-WI2-MPIO7 |
| C42111 CFP-20-1.27X7.4X12.85 |
| CQFP-144-0.5-22X22.00-20X20 |
| DFN-4-1.0-4.0X3.0-2;0H2.80 |
| FBGA-256-1.0-17.0X17.0-16X16-H1.86-D0.6/0.5旋钮翻盖型 测试 进口 POGOPIN(爪子型) |
| FP-14(20)-1.27-03-SZJ-MAP STD |
| FP-16(20)-1.27-03 |
| FP-20-1.27-03 |
| FPP2925-14-00-000/DIP-14-2.54-35.0 |
| GB2-110（面包板） |
| GB2-118 |
| GB2-120（面包板） |
| K78-T-100R3 HSOP-10-2.54-11.4X8.5H8.25 |
| L2N2907AUB/AK-SON-3-1.91-2.575X3.035要求下双针POGOPIN 开尓文 |
| LC88E1111-LGA-117-1.0-14.0*10.0-11*7H1.44-D0.6要求1.25G, 1.2瓦 金属旋钮 |
| LC88E1145 SZJ/MAP (中性)PBGA-364-1.0-21.0X21.0-20X20-H1.44-D0.5 金属旋钮 功率4W 175度 |
| LC88E1145-LGA-364-1.0-21.0*21.0-20*20-H1.44-D0.5 要求1.25G,功率4.5瓦 测试用 金属旋钮6只 |
| LGA-117-1.0-14.0X10.0-13X9-H1.44-D0.6 老化用 |
| LGA-256-1.27-21.0X21.0-16X16-H2.3 |
| LGA-784铝合金旋钮 |
| LGA-99-1.27-13.0X13.0-10X10-H3.0 POGOPIN金属旋钮 |
| LUC1843A LCC-20-1.27-8.85X8.85H2.3 POGOPIN 寿命1万次以上 2A每根 -65--+150度 测试金属旋钮 |
| LUC1843A CLCC-20-1.27-8.85X8.85H2.3 金属旋钮POGOPIN 测试用 |
| LW-N06A2G(805-12D) |
| LW-N08A2G |
| LW-N10A2G(805-20D) |
| LW-N12A2G(805-24D) |
| LW-N1***2G(805-30D) |
| LW-N18A2G(805-36D) |
| LW-N22A2G(805-44D) |
| LW-N24A2G |
| LW-N28A2G(805-56D) |
| LW-N30A2G(805-60D) |
| LW-N31A2G |
| LW-N36A2G(805-72D) |
| LW-N43A2G(805-86D) |
| LW-S06A2G(805-12S) |
| LW-S08A2G(805-16S) |
| LW-S10A2G(805-20S) |
| LW-S12A2G(805-24S) |
| LW-S1***2G(805-30S) |
| LW-S18A2G(805-36S) |
| LW-S20A2G(805-40S) |
| LW-S22A2G(805-44S) |
| LW-S24A2G(805-48S) |
| LW-S28A2G(805-56S) |
| LW-S30A2G(805-60S) |
| LW-S31A2G(805-62S) |
| LW-S36A2G(805-72S) |
| LW-S43A2G(805-86S) |
| LYM46331Y BGA-144-1.27-15.05X15.05-12X12-H5.01-D0.7/0.6 金属旋钮老化 |
| PGA-68-2.5-28.5X28.5-11X11 -POGOPIN 定制 |
| Q F N-96-0.35-10.0*10.0-24*24-H0.75普通测试金属旋钮 |
| QFN-128-0.4-14.0X14.0-32;32H0.75(POGOPIN) 测试用旋钮金属 |
| QFN-28-0.5-6.0*3.0 |
| QFN-32-0.5-5.0X5.0-8;8 |
| QFN-40-0.35-5.0X5.0-10X10-H0.75 |
| QFN-6-0.4 DFN-6-0.4 |
| SCI-LGA-133-1.27-15.0X15.0-12X12H4.32 |
| SCI-LGA-13-X-3.5X3.0-H1.52 |
| SCI-QFN-20-0.65-5.0X5.0-5;5-H1.0+G |
| SOP-16-0.65-8.83X7.13X7.0H2.7 |
| TO-247-4-2.54-2A |
| TO-263-5L |
| TSSOP-14-0.65-6.4X4.4X5.0+GND-POGOPIN |
| TTQ-11(TO-11-25.4X23.4) |
| TTQ-11(TO-11-25.4X23.4-直径0.7 |
| UBGA-132-0.4-6.0X6.0-12X12 |
| UBGA-132-0.4-6.2X5.4 |
| WLCSP-64-0.5 |
| XC65SLX55-3CSG324I BGA-324-0.8-15.0X15.0-18X18-H1.25-D0.45/0.4 测试旋钮 |
| ZMAQ-18S12MPS30AH-DIP-6-22.25 |
| ZMBQ-18S05MPS15 A H -DIP-6-9.9老化测试 |
| ZMCQ-18S05MPS05 AH -DIP-6-25.4 老化测试 |
老化座/测试座/烧录座常规使用注意事项：
1、操作要点
1)、标准寿命的达标重要前提是必须操作正确得当，主要是插座按压要用力均匀、和缓,力度适当。
2)、尤其是对常规型插座里的OPEN-TOP（相对于翻盖式）型BGA插座，否则会大大降低寿命。
3)、对量产型用户，长时间疲劳操作容易造成操作人员手部疲劳从而忽视操作要点，建议选购按压助力工具，可以***长期均力按压，从而延长插座寿命。
4)、放置芯片时需待确认其***到位后才能锁紧插座，否则一次误放就会***损坏插座针脚。
5)、取放芯片尽量避免使用镊子等硬物，以免触碰损坏测试针。可以另外购置小型吸笔。
6)、对BGA封装，重新植过锡球的芯片会对插座造成一定损伤从而降低插座寿命。用户需对此有所认知。
2、 保养要点
1)、老化座/测试座/烧录座长期不用时要用自封袋作密封处理，以免长期暴露在空气中针脚氧化及灰尘等杂质进入老化座/测试座/烧录座内部。
2)、老化座/测试座/烧录座的取放要轻拿轻放，放置时请勿将多个老化座/测试座/烧录座重叠摆放，以免误伤针脚，或将插座焊点处造成短路。
3)、确保烧写的芯片洁净，以免污染测试针而引起短路或接触不良等。二手芯片烧写前必须清洗。老化板要定期保养,确保每个工位干净整洁,可以用专用金属毛刷刷干净后再使用。
4)、无铅芯片更易氧化从而污染测试针。
5)、可定期在超声波清洗机中用工业酒精清（绝不可用***清洁剂如天那水、苯、丙酮或者稀释剂等）。
6)、注意清洗温度常温，时间2-3 秒即可，高温和长时间均可能损伤插座。
3、使用过程中发现异常的检查流程
1）使用寿命到否？
2）是否有针脚的硬损伤？
3）去除可能的异物如毛屑。
4）清洗。
a)、用气枪或防静电刷，把Socket座里面杂质清除，使其接触良好；
b)、用无水酒精清洗Socket，把弹片***的附着杂质清洗干净，使其接触良好；
c)、严禁用天那水，洗板水等有机溶剂浸泡，清洗，以免损坏Socket内部结构；使用任何化学品清洗浸泡都会导致座子接触不良,除低使用寿命或直接报废
4、 老化座/测试座/烧录座验收的流程和售后政策
1）收到货后首先看外包装有无损坏。如外包装盒在物流途中损坏，很有可能里面老化座/测试座/烧录座的也会受到损伤，检查老化座/测试座/烧录座时应更加注意。
2）老化座/测试座/烧录座中最要、最脆弱也最主要的部分就是测试插座（SOCKET），需要仔细检查：
a).对光检查管脚，行列都应该排列整齐且有规律。
b).按下插座外框，对光检查管脚，行列都应该排列整齐且有规律。
c).检查插座活动部件压下或恢复是否正常。
3）编程器实际烧写芯片测试。
老化座/测试座/烧录座属于消耗品，如上所述，其既具有正常使用条件下的正常寿命，若使用过程中存在各种风险造成老化座/测试座/烧录座/插座的失效，我司不对出厂老化座/测试座/烧录座提供保修承诺。
欢迎新老客户的光临惠顾！ 愿以诚恳的态度，提供您专业的服务。
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