Omron ZW-7000T位移传感器 卡件模块 智能控制器 全新

产品作用：

Omron ZW-7000T 位移传感器简介

产品特点

采用白光共焦测量原理，投光与受光同轴设计，可在测量范围全领域准确测量同一位置。

不受被测物材质和表面状态限制，镜面、粗糙面、曲面、倾斜面及透明体均可稳定测量。

测量周期***可达20μs，无需平均化处理即可忠实再现工件形状轮廓。

传感头光点直径最小可达50μm，适合微小部品和狭小区域的精密测量。

内置EtherCAT接口，可与NX/NJ系列控制器高速同步，实现移动中的***测量。

产品应用领域

智能手机盖板玻璃曲面形状检测

半导体晶圆厚度均匀性监测

汽车车身面板变形与缺陷检测

精密机械零件尺寸公差检测

电子元件引脚高度与间隙测量

透明薄膜与玻璃厚度测量

3D曲面玻璃轮廓扫描

粗糙面工件平坦度测量

微小部品间隙与位置检测

生产线在线高速品质检测

产品参数

产品型号：ZW-7000T（控制器），适用传感头 ZW-S70系列

测量周期：20μs ~ 400μs；电源：DC 24V（21.6~26.4V）；输出类型：NPN/PNP通用

静态分辨率：0.25μm；防护等级：控制器IP20，传感头IP40

总结：Omron ZW-7000T 是ZW-7000系列光纤同轴位移传感器的EtherCAT控制器，配合专用传感头可实现镜面、粗糙面、透明体等多种材质的高速高精度非接触测量，适用于电子制造、半导体及精密加工等领域的在线检测。

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