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ALNAIR硅晶圆厚度传感器 货期短

参数
  • ALNAIR 品牌
  • SIT-200型号
  • 硅晶圆厚度传感器传感器类型
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天津瑞利光电科技有限公司
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产品详情

天津瑞利光电科技有限公司优势经销日本ALNAIR硅晶圆厚度传感器

品牌名称:ALNAIR

规格型号:SIT-200


产品介绍

用于硅晶片的全光学非接触式厚度传感器

高动态范围,能够测量混乱的表面

能够在湿蚀刻过程中进行原位测量

SIT-200使用高速扫频可调激光器(而不是宽带光源)来探测被测晶片。这样就可以对每个波长进行更高功率的测量,从而实现高动态范围。即使在未抛光的晶片上,例如在湿蚀刻期间/之后,也可以进行厚度测量。硅晶圆厚度传感器由准确调谐的波长扫描激光源,聚焦传感器和光接收器(PD)构成。波长扫描光聚焦在目标上,并且在通过传感器后,PD会检测到从目标表面反射回来的干涉图样。

产品参数

测量对象:硅片

可测厚度:10~500(n = 3.5)μm

光源:波长扫描激光源

(1515~1585)nm

光输出功率:0.6,激光等级1 mW

引导光源:红色LD,激光等级1M

测量时间:min.20 ms

重复性:小于0.1(3σ)μm

监控输出:干扰信号(电气)

PC接口:以太网

电源:AC 100-240(50/60 Hz)V

尺寸(宽x高x深):364 x 147 x 391 mm

重量:9.0 kg

 


   天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立,坐落于渤海之滨天津,地理位置得天独厚,交通运输便利,进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心,我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国家的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品,同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。


(价格仅供参考  商品为进口商品,受汇率 关税 运费等不确定因素 ,不支持网上订货,订货前请电话确认价格)


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