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概述:
JFY3010A光耦参数测试仪，是一种用于各种电子元件参数测试的多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。
测量元件类型:三极管类型4脚 6脚光耦
测量参数:
参数項 | 测试参数 | 测试条件设置 |
输入正向压降(VF) | 0-2.000V | 0-400MA |
耐压(BVCEO) | 0-1200V | 0-2.000MA |
传输比(CTR) | 0-3000 | VCE:0-20V IC:0-2.000A |
饱和压降(Vsat) | 0-2.000V | IF:0-400MA IC:0-2.00A |
| 输出漏电流(Iceo) | 0-1mA | VCE=20V |
| 输入反向漏电流(IR) | 0-1mA | VR=4V |
公司承诺：质量服务承诺：
1.保修期一年，终生免费维护。
2.在保修期内，除人为因素外，任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、故障我们免费修理或更换。
3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后，十分钟内回应.
4.及时向用户以优惠的价格提供所需的备品备件和易
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- 操作简单
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- 光耦参数测试仪
- JFY3010A
- 光耦参数测试仪
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