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AQ8423Z光放大器分析仪、AQ8423Z安藤回收

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AQ8423Z光放大器分析仪、AQ8423Z安藤回收 AQ8423Z光放大器分析仪、AQ8423Z安藤回收


AQ8423Z光放大器分析仪、AQ8423Z安藤回收

NI-PXIE-8135

AQ8423Z

AQ8423Z光放大器分析仪,它覆盖C带和L带波长,能与AQ6317系统光谱分析仪配套。它可*地测量噪声指数NF和光链路中光放大器的增益,分隔ASE光噪声和经过光放大器放大的光信号,并能达到*小光路间隔25GHz的*佳效果。当将AQ8423Z与AQ6317B联合使用时可测量多达200个光路的NF图形。*近又推出新的多波长测量仪,一次可完成多达256条光路的波长测量。总之,DWDM系统的测量技术和测试仪表正向着更多波长、更好的波长测量精度和可分辨出更小的光路间隔,即向着能满足未来更高波分密度、更巨大的网络容量的传输设备的要求发展。

NI-PXI-2503 

NI-PXI-2565

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