HP4285A、惠普4285A精密LCR表，30MHz
¥500.00
HP4286A电桥、惠普HP4286A LCR测试仪
¥440.00
供应HP4291A阻抗分析仪-惠普4291A回收
¥61.10
二手惠普HP4291B|HP4291B阻抗分析仪回收
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HP4339A高阻表、二手惠普4339A
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HP4339B毫欧表|二手HP4339B高阻测试仪
¥96.00
HP4278A测量范围 测量参数 1kHz 1MHz正常模式
1MHz高精度 二手HP4278A电容表1MHz-HP4278A电桥
、
二手HP4278A电容表1MHz-HP4278A电桥
4278A电缆长度补偿 0,1或2m
Agilent 4278A比较器：对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试
存储卡插槽 外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用
（存储卡可任选，参见下面的选件004）。
4278A一般技术指标Agilent 4278A
测量速度:6.5ms/10ms/21ms
测量参数:C-D,Q,ESR,G
C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A详细资料：
HP4278A测量速度:6.5ms/10ms/21ms
HP4278A测量参数:C-D,Q,ESR,G
C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
A
技术指标：
测量参数
C-D，Q，ESR，G
测试信号
频率：
NI PXI-6225 NI PXI-8430 NI PXI-8434 NI PXI-6221 NI PXI-6225
NI PXI-4461 NI PXI-4462
NI PXI-4110
NI-PXIE-5622
NI-PCI-1200
NI-PXIE-1062Q NI-PXIE-1065 NI-PXIE-1078
NI-PCI-6230
1kHz和1MHz±0.02%
信号电平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进
测量时间：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）
测量范围
测量参数
1kHz
1MHz正常模式
1MHz高精度
C
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
0.00004pF~2663.00pF
D
0.00001~9.99999
0.00001pF~9.99999
0.00001pF~0.99999
电缆长度补偿
0,1或2m
比较器：
HP4278A对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试
HP4278A存储卡插槽
HP4278A外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用（存储卡可任选HP4278A参见下面的选件
gilent 4278A 1kHz/1MHz电容测试仪是一台高速高可靠的精密测试仪器，用于生
HP4278A产线和质量控制中作电容器的进出厂检。Agilent 4278A 能改善小电容量和中等电
HP4278A容器的测试效率（可测量以200μF，这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值）。
HP4278A一般技术指标：
HP4278A工作温度/湿度
5°~45℃，在40℃时相对湿度为95%
电源
100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V
Amax
尺寸
约426mm(宽）*177mm(高）*498mm(长）（16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)
重量：
约15kg(33磅，标准）
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