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现货惠普4155B+HP4155A半导体参数测试仪 精博

参数
  • 是否进口
  • 美国产地
  • 加工定制
广东 深圳 1天内发货 15台
深圳市精博仪器有限公司 3年
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产品详情

特性


· 4156C提供4个内置的高分辨率的源/监控单元(HPSMUs),两个电压源单元(VSUs)和两个电压监控单元(VMUs)



· 1 fA 和0.2?UV的测试精度可满足开发新工技术和评价材料



· 全Kelvin,每个HRSMU有激励源、感应和接地端







· 完成准静态的电容对电压测试



· 自动提取处理参数而不需要人工操作屏幕光标



· 用极低泄漏的SMUs测量***泄露特性



· 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征



· 用内置的应力模式完成晶片的可靠性测试



· 用图形用户界面完成“点击”测试



· 基于Windows环境的图形数据分析能力



· 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常



· 待机模式不需要外部电源



· 触发模式可以同步AC/DC测试。



· IBASIC 用户功能可以绘图和分析数据。



Agilent4156C精密半导体参数测试仪


Agilent4156C精密半导体参数测试仪是Agilent下一代的精密半导体参数测试仪,4156C为***器件表征提供了高精


顶 ji 参数分析的实验室平台。


较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力,4156C还为以后和其他的测量仪器的扩展使用提供了坚实基础。


41501B扩展测量能力到1A/200V,并给Agilent4156C增加一个低的噪声接地单元和双脉冲发生器。 






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