美国福禄克FLUKE-1625接地电阻测试仪 128 Hz的测量频率
¥2800.00
Agilent安捷伦E4446A频谱分析仪13.2 GHz 微波信号。
¥2800.00
泰克Tektronix DTG5334 信号发生器 数据定时发生器
¥2800.00
日本安立 衰减模拟器 MF6900A - 日本安立Anritsu
借助全数字基带处理技术，实现高重现性和可维护性
一台设备支持 LTE 4x2 MIMO 或 2x2 MIMO 双单元测试
支持 LTE 2x2 MIMO 和 W-CDMA 系统间切换测试
采用 MD8430A/MD8480C 测试方案使得衰减调整易于操作
可扩展的硬件平台，支持多达四个输入和四个输出端口
衰减模拟器 MF6900A通过的数字接口，与 MD8430A 信号测试仪相连，以轻松地模拟 LTE 基站并运行 3GPP LTE 2x2 MIMO 和 4x2 MIMO 测试需的衰减模拟测试。
它支持 3GPP TS36.521 定义的有衰减传播测试并使用全数字基带处理技术，以确保在相同设置下完成高重现性的衰减处理，同时简化复杂的 MIMO 功率控制并达到高度。 一台 MF6900A 设备支持 LTE 2x2 MIMO 双单元测试和 4x2 MIMO 测试，并集成了支持 LTE 的 MD8430A 信号测试仪，便于配置用于切换测试的 LTE 2x2 MIMO 系统。
此外，该设备与具有 W-CDMA 功能的 MD8480C 信号测试仪连接，可支持 LTE/W-CDMA 系统间切换测试。4x2 MIMO、 4x1 MISO （配备 MF6900A-001、 MX690010A、 MX690010A-001 和 连接 MD8430A 时可用） 移动、生灭、Tx/TRx 差异（配备 MX690020A 和连接 MD8430A 时可用）
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