JW-BK 200系列比表面积及孔径分析仪

面议

参数

否是否进口
否加工定制
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产品详情

产品概述

比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附。 JW-BK200C比表面及孔径仪因双站均配置有***压1torr或0.1torr压力传感器，及10的-8次方Pa***真空度涡轮分子泵，可有效解决分子筛、催化剂、活性炭等多微孔样品的高效率超微孔分析。

技术亮点

孔径范围：0.35nm - 500nm

比表面积测试范围：0.0001m2/g - 无上限

中值孔径重复性：≤0.02nm

比表面积重复性：≤1%

产品特点

饱和蒸汽压P0

核心设计，实时检测，配置独立P0测试压力传感器133KPa，P0值逐点测试、P/P0即时计算，数据更加可靠。也可选择使用大气压输入法测试P0值。

真空脱气

集同位、异位真空脱气于一体的标准化设计，样品分析的同时，可以进行另外2个样品不同温度及时间的异位脱气处理；分析站可同时进行2个样品不同温度及时间的同位脱气处理材料

涡轮分子泵

C型标配，极限真空高达10的-8次方Pa，为***压下超微孔分析提供强有力支持，微孔直径测试最小0.35nm

微孔分布

HK、SF微孔分析模型应用准确，微孔孔径偏差小于0.02 nm，通过中国计量院认证

NLDFT

非定域密度函数理论孔径分析软件，与北京化工大学、苏州大学深入合作开发，填补了国内空白，与国际接轨，涵盖碳材料、分子筛等各类微孔材料测试界面上动态显示每个吸附平衡过程，可清晰了解样品的吸附特征，监控实验过程，帮助分析异常现象，还通过事件栏和指示灯显示仪器内部动作进程，是独特的很有使用价值的人性化设计；

通过测试界面可直观清晰观察到歧管内部空间压力及温度变化，便于仪器维护，也便于简易测试当前大气压需要；

测试数据自动保存为源文件，支持不联机、多文档同时分析，可拷贝，BET、Langmuir、BJH、t-plots等等十几种物理吸附分析模型供选择使用；

预处理包含随机独立式、同位处理式两种，可按需选择使用。

数据分析

完整的物理吸附计算模型供灵活选择，包括：

-等温吸脱附曲线；

-BET比表面积（单点、多点）；

-Langmuir表面积；

-外表面积（STSA）；

-BJH孔径分析；

-t-plot分析；

-DR、DA、MP方法；