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数显测厚仪/数显测厚计 型号：DP-L200
数显测厚仪/数显测厚计 说明：
DP-L200数显测厚仪可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、锌、锡、珐琅、橡胶、塑料、油漆等)，也可测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆盖层的厚度（如橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等）。本仪器可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。适用于工程现场测量；
DP-L200两用型测厚仪指标：
测量原理：磁感应法和涡流法（Fe/NFe两用探头）
测量范围：1～1250μm
测量准确度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校准）
分辨率：1μm
工件要求：小曲率半径（mm）凸5 / 凹 25 ；
接触小面积直径10mm×10mm；
基体小厚度Fe:0.2 mm；NFe:0.05mm
使用环境：温度0-60摄氏度；湿度 20%-75% ；无磁场环境
电源：四节1.5伏AAA电池
外形尺寸：112 ×69×28mm
重量：82 g(不含电池)
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