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波长色散X射线荧光光谱仪WDX200
波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度***提高，起了重要作用。
随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析。
波长色散型X射线和能量色散型X射线的区别：
原理区别：X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。
结构区别：波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要打，一般为2-3千瓦，单X射线管的效率极低，只有1%的功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为而能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷）。
功能区别：考虑到各种情况，能量色散型荧光仪和波长色散型荧光仪的检测限基本相同。但在（高能光子）范围内能量色散的分辨率好些，在长波（低能光子）范围内，波长色散的分辨率好些。就定性分析而言，在分析多种元素时能量色散优于单道晶体谱仪。就测量个别分析元素而言，波长色散好些。如果分析的元素事先不知道，用能量色散较好，而分析元素已知则用多道晶体色散仪好。对易受放射性损伤的样品，如果液体，有机物（可能发生辐射分解），玻璃品，工艺品（可能发生褪色）等，用能量色散型荧光散型荧光仪分析特别有利。能量色散型荧光仪很适合动态系统的研究。如在催化，腐蚀，老化，磨损，改性和能量转换等与表面化学过程有关的研究。
总之，能量色散型荧光和波长色散型荧光折两种仪器，各有所有点和不足，它们只能互补，而不能替代。
固定道波长色散X荧光光谱仪
型号：WDX200
产品说明、技术参数及配置
仪器介绍
性能特点粉体样品或块样品快速，非破损分析。
采用多路高速MCA并行实时检测各元素谱峰，不仅便于调试仪器和故障诊断，而且有利于提高仪器稳定性。
技术指标恒温室温度控制精度：设定值±0.1℃。
分析元素种类：从Na到U的任意十种元素。
分析方法：经验系数法和理论α系数法。
交流220V供电设备：1KVA交流净化稳压电流。
高压电源：200W（50KV4mA）。
管压管流12小时稳定度：优于0.05%。
真空泵：两相～220V、2升。
工控微机：工控104微机。
分析精度：σn-1（24小时，***比含量）≤0.05%。
单个样品测量时间：（含换样抽真空时间）≤3～5分钟。
X 射线管：Varian公司生产的400W薄铍窗端窗X射线管，Rh靶（Pd靶可选）。
探测器：流气正比探测器+封闭正比探测器，10路1024道独立脉冲高度分析器。
真空系统：独立泵站结构，易于维护。
测量室真空度：低于5Pa。
流气系统：高精度流气密度稳定装置，压力稳定度达到±0.003KPa。
分析软件：备有经验系数法和理论α系数法两种定量分析方法，采用全谱检测技术，实现了各道谱线的即时跟踪和校正，从而大大提高了定量
分析的重现性和长期稳定性，同时也提供了诊断仪器工作状态的直观依据。完善的自诊断措施。内置了RS-232串行通讯协议，TCP/IP协议与DCS或QCS系统共享数据。
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