取消

利用CTX质构仪表征粉饼的硬度或“强度”AMETEK Brookfield

参数
  • 质构仪产品特性
  • 是否进口
  • 美国产地
河南 郑州 3天内发货 9台
河南睿之垣仪器设备有限公司 1年
进入店铺 在线咨询
产品详情

利用CTX质构仪表征粉饼的硬度或“强度”AMETEK Brookfield


当下流行的面部粉饼是压缩粉饼。质地结构、色调和香味是爽肤粉的三个关键特征,对制造商来说很重要,对消费者来说也是明显的特征。


按体积计算,压缩粉饼的基本成分是滑石粉,一种天然的含水硅酸镁,占粉末总量的70%或更多。滑石粉使粉饼柔软且易于使用,表现出丝滑的使用体验。粘合剂和其他原料的添加,可以有效防止粉饼在运输和使用过程中发生破碎、开裂的情况,且具有除尘作用,为压缩粉饼提供多样的颜色、气味,并保持良好的稳定性。
通过质构分析,可以产品质量的稳定性和一致性。因此,原料的选择和它们各自的比重是重要的,并将影响粉饼的硬度。
CTX质构仪可以通过2毫米圆柱形探头的穿刺测试评价压缩粉饼的硬度或“强度”。



所用设备

仪器:CTX(5Kg负载单元)

附件:2 mm Cylinder Probe (TA-39)

软件:Texture Pro软件



参数设置


测试类型:Compression压缩

测前速度:0.5 mm/s

测试速度:1.0 mm/s

测后速度:4.5 mm/s

目标类型:Distance

目标距离:2 mm

触发负载:5 g


注意:为了准确触发测试,建议预测试速度小于或等于测试速度。穿透距离可以修改,但是,所选择的目标距离应使探头不接触容器的底部。否则,仪器将过载,结果可能会有变化。

结果


如下是一个典型的CTX质构仪测试谱图,显示了面饼的硬度,脆性等指标。


图1:粉饼穿刺测试曲线图(负载/时间)



结果分析


硬度:测试过程中峰值力值;

断裂衰减:代表产品脆性的层次性,衰减越大说明脆性的层次感越弱;

断裂性:产品发生次断裂的力值,力值越大说明越不容易断裂。

测试结果如下:


通过图1可知,当探头向下运行直至达到粉饼表面的破裂点之前,应力一直处于上升的趋势;到达破裂点时,图中显示个应力峰值;穿透表面后,测量的力值稳步增加,直到测量到个峰值,峰值越大,说明粉末的致密程度越高。 

利用CTX质构仪表征粉饼的硬度或“强度”AMETEK Brookfield

为您推荐
供应商网> 分析仪器> 其他分析仪器> 利用CTX质构仪表征粉饼的硬度或“强度”AMETEK Brookfield
    在线问
    产品参数
    1/5
    ¥95000.00 在线咨询
    进店 客服 获取最低报价 拨打电话
    利用CTX质构仪表征粉饼的硬度或“强度”AMETEK Brookfield
    ¥9.5万~¥10万
    • 采购产品
    • 采购数量
    • 联系电话
    《服务条款》 并允许推荐更多供应商为您服务
    请阅读并同意《服务条款》