利用CTX质构仪表征粉饼的硬度或“强度”AMETEK Brookfield
所用设备
仪器:CTX(5Kg负载单元)
附件:2 mm Cylinder Probe (TA-39)
软件:Texture Pro软件
测试类型:Compression压缩
测前速度:0.5 mm/s
测试速度:1.0 mm/s
测后速度:4.5 mm/s
目标类型:Distance
目标距离:2 mm
触发负载:5 g
如下是一个典型的CTX质构仪测试谱图,显示了面饼的硬度,脆性等指标。
图1:粉饼穿刺测试曲线图(负载/时间)
硬度:测试过程中峰值大力值;
一断裂衰减:代表产品脆性的层次性,衰减越大说明脆性的层次感越弱;
断裂性:产品发生一次断裂的力值,力值越大说明越不容易断裂。
测试结果如下:
通过图1可知,当探头向下运行直至达到粉饼表面的破裂点之前,应力一直处于上升的趋势;到达破裂点时,图中显示一个应力峰值;穿透表面后,测量的力值稳步增加,直到测量到二个峰值,峰值越大,说明粉末的致密程度越高。
利用CTX质构仪表征粉饼的硬度或“强度”AMETEK Brookfield