大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本的国产制造商，获得了极高的信任。
利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA
nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。
特长
● 1台便可实再5个样品的连续测量
实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品
可以改变每个样品的条件进行测量
● 可以对应从稀薄到浓厚的样品
● 标准测量时间1分的高度测量
自动调整从浓厚系到稀薄系样品的测量位置，实现约1分钟的高速测量
● 配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)
没有任何复杂的操作，简单易懂的软件
● 因为每个样品槽都是独立的，没有接触污染的风险。
● 搭载温度梯度功能
测量范围（理论值）
● 粒径0.6nm～10μm
● 浓度范围 0.00001～40％
● 温度范围0～90℃*
