大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本的国产制造商，获得了极高的信任。
利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
高感度分光辐射亮度计 HS-1000
特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的***亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm） 独特的光学系统降低了...
特长
采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅），
0.005cd / m 2的***亮度到400,000cd / m2的高亮度都可测量，
对应CIE推荐的宽波长范围（355nm至835 nm）
独特的光学系统降低了偏振误差（<1％），
并且像LCD一样具有偏振特性的样品也可以进行高精度测量
可以执行***1秒的高速测量，包括通信时间。
（在连续测量的情况下，可以更快的进行测量，***约20毫秒/次）
可在不改变测量角度下测量的广泛的亮度范围。
（测量角度2°时，0.005cd / m2~4,000cd / m2）
可以对频率照明光源执行高精度的稳定测量。
（输入照明频率自动将曝光时间设置为照明周期的整数倍）
搭载了对应响应测量的产品。※
也可能对应人眼可视颜色外观模型“CIECAM 02标准“的输出。※
考虑到眼睛薄度（浦肯野现象现象），也可对应“CIE 200：2011标准“的输出。
測定項目
-辐射率（W / sr / m 2）
- 亮度（cd / m 2）
- 色度坐标xy [符合CIE 1931]
- 色度坐标U&＃39;V&＃39;[CIE 1976兼容]
- 色度坐标U&＃39;V&＃39;[符合CIE 1976]
- 相关色温 - 色度（C）* 3
- CIE颜色系统2°/ 10°
- 三刺激值XYZ - 等效亮度值* 4
- 偏差
- 光谱数据的算术运算
- 光谱数据的功能处理
- 色域(NTSC比率)* 1
- 响应速度* 2
- 明度（J）* 3
- 亮度（Q）* 3
- 饱和度(s)* 3
- 色度（C）* 3
- 色彩（M）* 3
* 1选项
* 2使用HS-1000 RT
* 3符合CIECAM 02标准时
* 4 CIE 200：符合2011标准时
用途：
LCD、PDP、有机EL，大屏幕LED等的视觉光谱数据•亮度•色度•相关色温测量
照明光源的光谱数据，例如灯•亮度•色度•相关色温测量
作为各种亮度/色度测量仪器的参考设备
对非接触式物体的颜色测量
