大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本的国产制造商，获得了极高的信任。
利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
紫外分光全光谱光通量测量系统
产品信息 特征 具有高灵敏度检测器的宽测量范围 具有紫外线自吸收校正的高精度测量 配备温度控制单元，可从-110C进行温度控制 涵盖从紫外线到可见光的波长范围 电源、温控单元、...
特征
● 具有高灵敏度检测器的宽测量范围
● 具有紫外线自吸收校正的高精度测量
● 配备温度控制单元，可从-110°C进行温度控制
● 涵盖从紫外线到可见光的波长范围
● 电源、温控单元、测量仪软件批量控制
评价项目
辐射通量、光谱辐射通量
杀菌效果*1
峰值波长，半高宽
基于总光通量测量系统的测量项目
总光通量、三刺激值XYZ、色度坐标xy、uv 、u&＃39;v&＃39;相关色温、Duv、主波长、刺激纯度显色指数、等色标准偏差
光子量、外量子效率、发光效率* 根据紫外线辐射伤害作用函数计算
