供应向微精密一键式快速影像小视野测量仪

参数

发货地广东深圳不限

产品详情

· 产品介绍

XW100静态快速检测仪适用于TFT液晶面板、光学玻璃、触控面板玻璃、PCB、精密五金冲压件等单一尺寸产品的大批量检测。可用于二维形位公差测量；可导出EXCLE、WORD等格式；输出SPC报表。

· 产品特点

1、直接以光学成像方式进行测量，没有机械移动。 2、工件放置后，一次性全尺寸检测，无需编程。 3、光源系统采用LED面阵表面光源。 4、配有CCD系统和镜头模组，进行快速检测。 5、采用SFV测量软件。 6、光学放大倍率1X,影像放大倍率40X。

· 技术参数

具体型号	XW00
工作原理	直接以光学成像方式进行测量，没有机械移动
检测方法	工件放置后，一次性全尺寸检测，无需编程
精度	(5 +L/200)μm
光源系统	LED面阵表面光源
镜头	高精密光学镜头模组
CCD	高解析度工业CCD系统
放大倍率	光学放大倍率1X；影像放大倍率40X
软件	SFV测量软体
主要功能	可用于二维形位公差测量；可导出EXCEL、WORD等格式；输出SPC报表。
测量速度	3秒