一、 详细介绍
GWB-200JA型引伸计标定仪,是一种纯机械式的高精度位移测微仪器。依据JJG762-92引伸计检定规程要求,专门用于对各类引伸计的标定,也广泛用于位移传感器的检定及相应***表、千分表的检定。
结构特点及读数方式
1、本仪器由精密微分测头及测量支架组成。该标定仪是积木式结构设计。将精密微分测头及支臂以多种方式或位置组合,同时配有加长立柱附件,配有圆柱、板、刀片等多种形式的分离试样,可以方便地进行多种规格型号引伸计的计量标定。用户还可以根据自己的测试特殊需要,配置专用配件进行精密微变形量计量。
2、精密微分测头由滑动量杆、量杆套筒、读数内
筒、读数外筒及高精密螺纹付组成。其量程25㎜;
最小分度(游标分度)0.0002㎜;旋转外筒分度0.002㎜。
位移变化读数为:
L=(a+0.001b+0.0001c)-(a0+0.001b0+0.001c0)
其中:a-内筒毫米刻线读数
b-外筒刻线读数
c-游标刻线读数
a0 b0 c0 为相应位移变化前读数
精密微分筒
二、各项技术精度指标
1、测量引伸计标距范围Lmax 500㎜
2、测量支座上支臂安装孔径 φ10;φ28
3、微分测头读数内筒轴向刻度 0.5㎜/格
4、微分测头读数内筒游标刻度 0.0002㎜/格
5、微分测头读数外筒园周刻度 0.002㎜/格
6、高精密微分测头精度指标
标定仪示值误差:
量程0.5㎜以内≤0.5μm 误差
量程0.5㎜以上≤0.10% 逐点相对误差
参照标准:
JJF1096-2002 引伸计标定器校准规范
***9513:1999 金属材料单轴试验用引伸计标定
JJG762-1992 引伸计检定规程
可进行0.5级引伸计的标定