Renishaw雷尼绍SCR200测针模块交换架

面议

参数

是是否进口
英国原产国/地区
是加工定制

发货地山东青岛 3天内发货供货总量15个

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产品详情

Renishaw雷尼绍SCR200测针模块交换架

Renishaw雷尼绍SCR200测针模块交换架

英国Renishaw雷尼绍SCR200测针模块交换架

特性与优点

· 应变片技术具有***的重复性和确的三维轮廓测量

· 零复位误差

· 无各向同性影响

· 六向测量能力

· 测针测量距离达100 mm（GF测针）

· 快速测头模块交换，无需重新标定测尖

· 寿命 >1 000万次触发

TP200 / TP200B测头本体

采用微应变片传感器，实现优异的重复性和确的三维轮廓测量，即使配用长测针时也不例外。

传感器技术提供亚微米级的重复性，并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题。测头采用成熟的ASIC电子元件，确保了在数百万次触发中的可靠操作。

TP200B采用的技术与TP200相同，但允许更高的振动公差。这有助于克服因坐标测量机传导振动或在移动速度很高的情况下使用长测针所引发的误触发问题。

请注意：我们不推荐TP200B配用LF模块或曲柄/星形测针。

TP200规格

摘要	TP200	TP200B
主要应用	需要高度的数控坐标测量机。	与TP200一样，但当出现误触发事件时。
传感器方向	六轴：±X、±Y、±Z	六轴：±X、±Y、±Z
单向重复性 (2s µm)	触发水平1：0.40 µm 触发水平2：0.50 µm	触发水平1：0.40 µm 触发水平2：0.50 µm
XY（2D）轮廓形式测量偏差	触发水平1：±0.80 µm 触发水平2：±0.90 µm	触发水平1：±1 µm 触发水平2：±1.2 µm
XYZ (3D) 轮廓测量偏差	触发水平1：±1 µm 触发水平2：±1.40 µm	触发水平1：±2.50 µm 触发水平2：±4 µm
测针交换的重复性	SCR200：±0.50 µm（）手动：±1 µm（）	SCR200：±0.50 µm（）手动：±1 µm（）
测力（测尖）	XY平面（所有模块）：0.02 N Z轴（所有模块）：0.07 N	XY平面（所有模块）：0.02 N Z轴（所有模块）：0.07 N
超程测力（位移为0.50 mm时）	XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N Z轴（SF/EO模块）：4.90 N Z轴（LF模块）：1.60 N	XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N Z轴（SF/EO模块）：4.90 N Z轴（LF模块）：1.60 N
重量（测头传感器和模块）	22 g	22 g
长加长杆（如配在PH10系列测座上）	300 mm	300 mm
推荐的测针长度（M2测针系列）	SF/EO模块：50 mm钢质至100 mm GF LF模块：20 mm钢质至50 mm GF	SF/EO模块：50 mm钢质至100 mm GF LF模块：20 mm钢质至50 mm GF
安装方式	M8螺纹	M8螺纹
适合的接口	PI200、UCC	PI200、UCC
测针模块交换架	自动：SCR200 手动：MSR1	自动：SCR200 手动：MSR1
测针系列	M2	M2