电阻率/方块电阻测试仪 型号:DP-DB1
DP-DB1仪器性能
方阻测量范围:1×10-5~2×106Ω/□,小分辨率1×10-5Ω/□;
电阻率测量范围:1×10-6~2×105Ω·cm或1×10-8~2×103Ω·m,小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m;
探针压力:25g~250g;
探针曲率半径:25μm~450μm
(注:探针压力及曲率半径可根据薄膜材料性能及用户需求定制);
测试电流分7档:1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA;
测试电压:(1μA~10 mA档)12~80V连续可调
(100mA档) 8~36V连续可调
(1000mA档) 8~15V连续可调;
测量方式:手动或自动
测量对象:导电薄膜、半导体薄膜、电力电容器铝箔、各种金属箔、银浆涂层、锂电池隔膜等各种新型电子薄膜;各种半导体材料的电阻率。
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