北崎供应日本CHINO千野用于半导体和硅的红外温度仪IR-CA
北崎供应日本CHINO千野用于半导体和硅的红外温度仪IR-CA
IR-CA系列是一款集成、固定式红外温度仪配备数字温度显示、参数设置功能和测量值的外部输出。
共有低温型、中高温型、高性能型、超宽型等通用型以及按用途划分的17个型号,兼容多种非接触式测温字段。
半导体硅片温度测定
可测量400℃至1200℃硅片温度的红外温度仪。采用使晶圆不透明的测量波长,减少加热器对背面的影响
其他特性
一体化结构,内置数字温度显示和参数设置功能,可通过主机操作
精度高、响应快、可靠性高
可选件通信接口RS-485 (MODBUS)
显示设备可用于远程监控 IR-CA 和远程配置远程。
可以通过 RS-485 通信进行设置和显示。
准备数据记录软件
可选配保护壳、水冷板等选配件,以适应安装环境。
规格
机型 | 半导体硅用 |
---|---|
形式 | IR-CAT |
检测元件 | Si |
测量波长 | 0.6~0.96μm |
测量温度范围 | 400~800℃(100) 500~1000℃(200) 600~1200℃(200) |
精度额定 | 200℃以下:±2℃ 200℃以上:测量值的±1% |
重复性 | 0.5°C以内 |
分辨力 | 0.5℃ |
响应时间 | 0.04s(95%) |
测量直径/测量距离 | 可移动焦点 测量距离:0.5m~∞ 测量直径=测量距离/距离系数 距离系数:100、200 |
瞄准 | 直视取景器 |
输出信号 | 4~20mA DC,隔离输出 (不可电阻500Ω以下) |
通信接口 | RS-485(选件) |
电源 | 24V DC |
功耗 | 10VA |
外部尺寸 | W150xH110xD66mm |
质量 | 约1.3kg |
其他 | 数据处理软件:IR-VXC1 |