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北崎供应日本CHINO千野用于半导体和硅的红外温度仪IR-CA

参数
  • CHINO千野产品特性
  • 是否进口
  • 日本产地
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北崎国际贸易(北京)有限公司 1年
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北崎供应日本CHINO千野用于半导体和硅的红外温度仪IR-CA

北崎供应日本CHINO千野用于半导体和硅的红外温度仪IR-CA

IR-CA系列是一款集成、固定式红外温度仪配备数字温度显示、参数设置功能和测量值的外部输出。
共有低温型、中高温型、高性能型、超宽型等通用型以及按用途划分的17个型号,兼容多种非接触式测温字段。

半导体硅片温度测定

可测量400℃至1200℃硅片温度的红外温度仪。采用使晶圆不透明的测量波长,减少加热器对背面的影响

其他特性

  • 一体化结构,内置数字温度显示和参数设置功能,可通过主机操作

  • 精度高、响应快、可靠性高

  • 可选件通信接口RS-485 (MODBUS)

  • 显示设备可用于远程监控 IR-CA 和远程配置远程。
    可以通过 RS-485 通信进行设置和显示。

  • 准备数据记录软件

  • 可选配保护壳、水冷板等选配件,以适应安装环境。

规格

机型半导体硅用
形式IR-CAT
检测元件Si
测量波长0.6~0.96μm
测量温度范围400~800℃(100)
500~1000℃(200)
600~1200℃(200)
精度额定200℃以下:±2℃
200℃以上:测量值的±1%
重复性0.5°C以内
分辨力0.5℃
响应时间0.04s(95%)
测量直径/测量距离可移动焦点
测量距离:0.5m~∞
测量直径=测量距离/距离系数
距离系数:100、200
瞄准直视取景器
输出信号4~20mA DC,隔离输出 (不可电阻500Ω以下)
通信接口RS-485(选件)
电源24V DC
功耗10VA
外部尺寸W150xH110xD66mm
质量约1.3kg
其他数据处理软件:IR-VXC1


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