电脑谷物水分测试仪操作简单使用灵活自动温度补偿JZ-1G
¥1388.00
瓦斯继电器测试仪生产 操作灵活方便 应用范围广
¥580.00
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供应高灵活性铜厚测试仪、线路板孔铜@面铜测厚仪、孔内镀铜测试仪、台式测厚仪
- ¥6.8万 1台起批
- ¥6.75万 ≥2
参数
- 是加工定制
- 牛津品牌
- CMI760型号
广东 深圳
3天内发货
100台
电脑谷物水分测试仪操作简单使用灵活自动温度补偿JZ-1G
¥1388.00
瓦斯继电器测试仪生产 操作灵活方便 应用范围广
¥580.00
产品详情
CMI760通过孔铜(ETP)测试原理与面铜(SRP-4)测试原理采用微电阻和电涡流方式用于测量表面铜和孔内镀铜厚度。具有多功能性、高扩展性和***的统计功能。
孔铜(ETP)测试原理
通过涡流的原理来测量的,ETP探头上有一根探针,探针是由两个线圈组成的,测量时其中一个线圈发射电磁场，导体内部自由电子在电磁场中做圆周运动，产生回旋电流（即涡流），涡流再产生一个与该线圈产生的电磁场方向相反的电磁场，由另一个线圈接收，产生电信号，由于孔铜厚度不同而此信号大小不同而测量出孔铜厚度。这样可以看出金属的电导率不同其产生电信号强弱也不同,所以测出的厚度也不一样．所以要设定基材铜(面铜)﹑板厚和蚀刻前后项目.
2. 面铜(SRP-4)测试原理
通过微电阻原理来测量的,SRP探头上有四根探针,靠外面两根探针是一个恒流源, 靠里面两根探针是一个电压表. 测量时必需是四根探针同时接触被测铜表面,形成回路.根据公式R=U/I可得出电阻R,再根据R=ｐ×L/S可再计算出铜厚度．这样可以看出此时的铜厚与其横截面积的大小有很大关系. 所以测量不同宽度的面铜时需选用不同的标准片校准.
主机规格： |
存 储 量：8000字节，非易失性 尺 寸：长29.21×宽26.67×高13.97CM（11 1/2×10 1/2×5 1/2 英寸） 重 量：2.79Kg（6磅） 单 位：通过一个按键实现英制和公制的自动转换 单位转换：可选mils 、μm、μin、mm、in或%为显示单位 接 口：RS-232 串行接口，波特率可调，用于下载至打印机或计算机 显 示：带背光和宽视角的大LCD液晶显示屏，480(H)×32(V)象素 统计显示：测量个数，标准差，平均值，值，最小值 统计报告：需配置串行打印机或PC电脑下载，存储位置，测量个数，铜箔类型，线形铜线宽，测量日期/时间，平均值，标准差，方差***比，准确度，值，***值，值域，CPK 值，单个读数，时间戳，直方图 图 表：直方图，趋势图，X-R 图 |
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产品参数
- 是
- 牛津
- CMI760
- 1-102UM
- 5%
