IGBT静态参数测试设备
¥10.00
IGBT的各种静态参数而研制的智能测试系统
¥199.00
半导体/晶体管光耦
面议
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开尔文测控KEW3500-分立器件综合参数测试仪（台机）
- ¥1888.00 ≥1套起批
参数
- 开尔文测控品牌
- KEW3500型号
- 半导体分立器件静态参数测试系统产品别名
陕西 西安
不限
1套
IGBT静态参数测试设备
¥10.00
IGBT的各种静态参数而研制的智能测试系统
¥199.00
半导体/晶体管光耦
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产品详情
采用脉冲法测试参数、脉宽可为300uS，占空比可达1/3000以上
采用多级开尔文技术，系统稳定性高，测试结果准确，重复性好
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产品参数
- 开尔文测控
- KEW3500
- 半导体分立器件静态参数测试系统
