周口荧光镀层测厚及痕量元素分析仪 EX-3000非接触荧光涂层测厚仪价格实惠

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参数

是加工定制
慧采品牌
2018款型号

发货地河北邢台 3天内发货供货总量57台

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测温仪防爆标志Ex ib IIct4Gb 测温范围600℃—3000℃ ¥1.50

AC-15EX防爆型NCV非接触测电笔检测振动和红色LED报警 ¥248.00

防爆速度传感器KG-JZ-K5EX 非接触式堵煤速度开关皮带机链条机速度检测仪 ¥110.00

德敏哲 17系列EX本安防爆面议

Germanjet德敏哲17EX系列防爆磁致伸缩位移传感器(输出方式：电流，电压输出）面议

LJ30A3-15-Z/EX非埋入式接近开关、WEF-SQ-1001非接触式行程开关12-250VA ¥350.00

产品详情

产品描述： X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨***，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可到ppm，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。100瓦X射线管 25mm2PIN探测器多准直器配置扫描分析及元素分布成像功能灵活运用多种分析模型清晰显示样品合格/不合格超大样品舱同时分析元素含量和镀层厚度技术参数：泰亚赛福作为众多***的合作伙伴，以优的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格低”！

产品描述：日本精工SFT7000 X-射线镀层厚度测量仪七成新---日本***. 适用于五金、电镀、精品饰、电子、手表、电路板等镀层测量,如镀金、银、镍等微小部位的高精度测量，采用全自动样片台可实现自动测量。保修三个月。日本精工电子有限公司----研发出日本台荧光X-射线镀层厚度测量仪SFT-157. 经过20多年的努力, 现在的荧光X-射线镀层厚度测量仪能够准确的测量微小面积的镀层厚度。已被全电子零部件、印制电路板、汽车零部件、各种电镀产品生产及相关厂商广泛使用和认可，从此 “SFT”“XRF” 几乎成为镀层厚度测量仪的代名词。 X-射线镀层厚度测量仪的特征: 1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。 2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。 3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。技术参数：泰亚赛福作为众多***的合作伙伴，以优的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格低”！

产品描述：应用 : 测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。行业 :五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。特色 :非破坏，非接触式检测分析，快速精準。可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告。全系列独特设计样品与光径自动对準系统。标準配备: 溶液分析软体，可以分析电镀液成份与含量。準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。独特2D与3D或任意位置表面量测分析。雷射对焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。标準ROI软体搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。光学2 0X 影像放大功能，更能对位。单位选择： mils 、 uin 、 mm 、 um 。优於美製仪器的设计与零件可靠度以及拥有价格与零件的。仪器正常使用保固期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。测试方法符合 *** 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。技术参数：可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U)可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μmX-射线管：油冷,超微细对焦高压：0-50KV(程控)准直器：固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm 泰亚赛福作为众多***的合作伙伴，以优的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格低”！

产品描述： FS® XDVM-W测厚仪 FISCHERSCOPE® XDVM®-W FISCHERSCOPE® XDVM®-W是一款基于Windows&＃8482; 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。它杰出的特性包括：2组可切换的各带4个视准器的视准器组，大的开槽的测量箱体确保工件放置简便，的可编程的直流电机驱动的X-Y工作台快速和振动移动以及原始射线从上往下设计为在Z-轴可移动的X-射线发生和接受装置。这个特性使得该系统非常适合于测量大批量生产的部件，例如螺丝，连接器插针或大的线路板。按动按钮可根据预设的测试点定位进行自动测量，并可自动的进行评估报告输出。其它不同版本的仪器参见“技术详细信息"。技术参数：泰亚赛福作为众多***的合作伙伴，以优的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格低”！

产品描述：技术参数 1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法，符合技术标准DIN50987，***3497和ASTM B568； 2.测量箱结构坚固，使用合格的机械和电气部件； 3.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）720 mm×660 mm×950 mm，重量大约为90kg； 4.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）140mm×560 mm×530 mm，带向上回转箱门； 5.原始射线从上至下； 6.高性能的X-射线管，高压及电流设定可调节至的应用，高压设定：50kV，40kV或30kV；阳电流：连续可调至0.8mA； 7.小测量点: 50×100um 8.聚焦范围: 2.5 mm 9.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量小工件时非常有用； 10.高能量解像度的半导体接受器带帕耳帖冷却；内部光谱处理的ADC的通道为4096，压缩为1024个输出通道；； 11.快速编程，高度，电机带动的XY工作台运行范围： X=250mm， Y=220mm. ；定位精度0.005mm；工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆工作台面板可自动移出至工件放置位置；定位容易； 12.电机驱动及高度（Z-轴）Z-轴运行=95mm； 13.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看；可选择的双重放大率30-1108倍，带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示； 14.测量箱键盘适合于常用的测量功能和程序选择，操纵杆控制X-Y工作台，钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动，LED状态指示灯。主要特点号的FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-µ是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的，目前正在申请的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这可以在小到几?reg;微米的结构上进行测量。在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。XDVM-µ可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而法测量到的结构。具有强大功能的X-射线XDVM-µ带WinFTM® V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种独立元素的多镀层的厚度和成分。仪器介绍 WinFTMV6 是一套专门为解决含量分析和镀层测量的软件 WinFTMV6可在WindowsTM9X//NT/XP平台上运行；因为透过简单操作及准确的分析结果，所以便能够提升生产力。WinFTMV6还有以下的特色…… 特大屏幕能提供画中画显示分析结果，光谱及彩色影像图，图像亦可以用JPG格式储存。仪器能同时间分析多24种不同的元素；根据可检定的元素范围由xppm到，所以原子序号可由氯Cl=17）到铀（UraniumZ=92）。可同时测量23层不同元素镀层的厚度。共有1024频道显示清晰光谱，可随意选用不同颜色及储存光谱图，方便日后加以分析。因为不同受检样本的光谱可以进行比较，所以便快捷和容易地得出两种不同样本含量的分别。快速的频谱分析以决定合金成分。可以随意创建元素分析应用程式。透过预先设入的14种纯元素作为资料库，仪器便可以不需用标准片调校亦能以基本系数（FP）进行分析；如果输入已知的元素更可快捷地得出含量结果。可同时接受多10种不同含量的标准片来调校仪器，所得出的结果更及可信赖。用滑鼠选择已经储存的应用档案后，便可即时进行含量分析。测量样品后，可透过“analysis”功能按键，仪器便会自动侦测内里的元素含量。自带SOFTWAREPDM（ProductDataManagement产品数据管理）提供了以下的附加功能：通过可定义的文件夹实现产品文件管理（产品文件包括应用，数据呈现方式，打印形式定义，输出模板设置和记事簿）。打印形式可由用户随意设定，例如输出公司标题之类的小图片。包括字体管理以及随意定义页面设置。单个的应用可连接至任何的产品文件（这种连接大大减少了校验和标准化所需的步骤数）。使用条形码标签以及可选择的条形码读入器键盘，可实现产品自动选择。允许仅对选择的数据进行评估。从选择的数据块中进行单组读数的数据输出。 FISCHERSCOPE®X-RAYXDVM-u可以透过RS232接口、磁碟片或网络卡将所要的资料汇出到其他电脑进行统计。 XYZ运行程序功能：随机的单个点，点和后一点以及距离固定的中间点，列阵点，鼠标左键选点功能，右键可作为控制键。语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文技术参数：泰亚赛福作为众多***的合作伙伴，以优的价格+完善的售后服务体系向您提供产品。“服务、质量、价格低”！