供应捷迪讯RM3回损测试仪

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产品详情

JDS RM3750回损测试仪可采用多种波长进行插入损耗/回波损耗的***测量，广泛应用于电信网，CATV，WAN中的连接器和元件的生产测量. 产品特性　　**单模**　　◆波长范围：1310，1480，1550，1625，OR 1650 ±10nm 　　◆传感器类型：2nm InGaAs　　◆动态范围： to -75 dB 0 to-80 dBm 　　◆精度：±1.0 dB3.4　　±25dBm(typical)at-10dBBm6.7　　◆相对精度：±0.4 dB4 ±0.05dB(<5 dB Loss)±0.15dB<5 dB Loss)6　　◆输出端口：RS 232　　◆输入电压：100-240V AC,50-60 Hz　　◆耗电量：30vA maximumFC,SC　　◆显示屏：16-chracter LCD　　◆尺寸：4 kg　　◆工作温度：0-40℃　　◆储存温度：-40-70℃　　◆湿度范围：maximum 95% RH from 10-40℃　　　　**多模**　　◆波长范围：850 and/or 1310±20nm　　◆传感器类型：3nm InGaAs　　◆动态范围： to -75 dB 0 to-60 dBm 　　◆精度±1.0dB5　　±0.25dBm(typical)at-10 dBm(7)　　◆相对精度：±0.7 dB 5 ±0.15 dB7.8　　◆输出端口：RS 232　　◆输入电压：100-240V AC,50-60 Hz　　◆耗电量：30vA maximumFC,SC　　◆显示屏：16-chracter LCD　　◆尺寸：4 kg　　◆工作温度：0-40℃　　◆储存温度：-40-70℃　　◆湿度范围：maximum 95% RH from 0-40℃

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